L'étude est expliquée dans un article publié par le magazine scientifique "IEEE Transactions on Nuclear Science".
Ce problème est d'autant plus pertinent que dans l'espace, il est impossible d'offrir à l'électronique une protection physique contre les particules à haute énergie en raison de la forte capacité pénétrante de ces dernières. Les spécialistes ont alors activement élaboré des méthodes permettant de prévoir la fréquence de ces pannes dans des conditions données, ainsi que les méthodes informatiques et matérielles pour les combattre.
Cependant, la situation a foncièrement changé depuis 30 ans. La réduction de la taille des éléments des circuits intégrés jusqu'à l'échelle nanométrique a conduit à la propagation de nombreuses pannes — quand une particule spatiale (par exemple un ion ou un proton) provoque des erreurs simultanées dans plusieurs éléments logiques ou cellules de mémoire, entraînant des dysfonctionnements ou des dommages irréversibles des circuits électroniques. Il est très difficile de réparer de telles pannes à cause du caractère indéterminé de leur fréquence — c'est-à-dire du nombre de pannes à cause d'une particule spatiale précise.
En se penchant sur ce problème dans une série de recherches en 2015-2017, les spécialistes du MEPhI ont mis au point une nouvelle méthode permettant de traiter les résultats des expériences terrestres et de programmer les calculs de la fréquence des pannes. Elle permet de formuler des prévisions tenant compte des nouveaux aspects physiques, technologiques et informatiques propres aux circuits intégrés nanodimensionnels (avec un standard inférieur à 100 nm) les plus modernes.
La possibilité de calculer la fréquence des erreurs de différente multiplicité est la condition indispensable à la création de nouveaux algorithmes informatiques susceptibles de parer efficacement de nombreuses défaillances dans l'espace. Le MEPhI travaille en ce sens conjointement avec l'Institut de recherche d'études systémiques de l'Académie des sciences de Russie.